36 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Uçar Arserim, Dilhun Keriman.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffractometer, and Fourier transform infrared
by 
İncel, Anıl, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
drop tower system which was specficically designed for this research. Atomic force microscopy (AFM
by 
Tüzüner, Şeyda, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
composite films was examined by atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM). The
by 
Özden, Selin, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). The variation of As2O3 and Ga2O3 contents
Select All
36 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Materyal Türü
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
Konu
Raf Lokasyonu
Kütüphane