5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Oğuz, Kaan.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Diffraction (XRD), Atomic Force Microscopy (AFM), and Scanning Electron Microscopy (SEM). Ellipsometry was
by 
Özdemir, Mehtap.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
height of the mesa were investigated using atomic force microscopy. Tunneling characteristics were
by 
Vahaplar, Kadir
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
been studied by X-Ray Diffractometer (XRD), Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron
by 
Fidan, Mehmet, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
were studied with a combination of experimental techniques involving magnetic force microscopy, SIMS
Select All
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Materyal Türü
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
Raf Lokasyonu
Kütüphane