5 sonuç bulundu
Select All
00000DEFAULT_TR
by
Büyükköse, Serkan.
Format:
El Yazması
Alıntı:
Scanning probe microscopy.
by
Aydın, Hasan.
Format:
El Yazması
Alıntı:
taken via spreading resistance microscopy and scanning tunneling microscopy. Moreover, in order to
View Other Search Results
by
Yağmurcukardeş, Nesli, author.
Format:
El Yazması
Alıntı:
Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Raman
by
Yanılmaz, Alper, author.
Format:
El Yazması
Alıntı:
characterized via Raman Spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy
by
Gül, Semra.
Format:
El Yazması
Alıntı:
Probe Microscopy (SPM) lithography that uses a nanometer sharpened tip has demonstrated outstanding
5 sonuç bulundu
Arama Sonuçlarını Sınırlandır