5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Ülkeryıldız, Eda.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Microscopy (SEM) for their morphology, and X-Ray diffraction (XRD) for their crystal structures. On the basis
by 
Budak Ünaler, Meral.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
, Incised-Sgraffito, Incised and Champlevé, were analyzed by Scanning Electron Microscope (SEM-EDX), X-Ray Diffraction
by 
Özçeri, Elif.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
roughness, which affected the number of graphene layers, were examined by X-ray Diffraction (XRD) and Atomic
by 
Ocak, Yılmaz.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and scanning transmission electron microscopy
Select All
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol