4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Üney, Sinem, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM) and Surface Plasmon Resonance which allows to
by 
Uçar Arserim, Dilhun Keriman.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffractometer, and Fourier transform infrared
by 
Molva, Çelenk, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
changes using scanning electron and atomic force microscopy. The results of this study clearly showed that
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Materyal Türü
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
Raf Lokasyonu
Kütüphane