by
Urkaç Sokullu, Şadiye Emel.
Format:
El Yazması
Alıntı:
), Scanning Electron Microscopy (SEM), Optical Microscopy (OM), Micro-hardness and Contact Angle Measurement
View Other Search Results
by
Gültekin, Naz.
Format:
El Yazması
Alıntı:
, scanning electron microscopy (SEM) to observe morphological changes occurred at the surface of the films
View Other Search Results
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış: