4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Uçar Arserim, Dilhun Keriman.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffractometer, and Fourier transform infrared
by 
Merter, Nevres Emrah.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
investigated by matrix burn-out test and optical and scanning electron microscopy (SEM) analyzes. Tensile
by 
Okur, Serdal.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
characterization of the plasma nitrided layers were investigated by X-ray diffraction (XRD), scanning electron
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol