4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Üney, Sinem, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM) and Surface Plasmon Resonance which allows to
by 
İncel, Anıl, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
drop tower system which was specficically designed for this research. Atomic force microscopy (AFM
by 
Seziş, Ümmügülsüm, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
. The surface topography was studied using atomic force microscopy (AFM). The findings show the
by 
Özpirin, Merve, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
(FTIR), Scanning Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM) and Contact Angle measurements
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol