4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Yağmurcukardeş, Nesli, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Raman
by 
Özçeri, Elif.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Force Microscopy (AFM) techniques, respectively. The thickness and columnar structure of the films were
by 
Keskin, Yasemin, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
were done with Atomic Force Microscopy. The experimental results showed that single layer graphene on
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Materyal Türü
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
Raf Lokasyonu
Kütüphane