İYTE Library Logo

DEFAULT_TR
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films için kapak resmi
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
by 
Özden, Selin, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). The variation of As2O3 and Ga2O3 contents
2. 
Fabrication and characterization of superconducting bi2212 bolometer for the detection of THz waves için kapak resmi
Fabrication and characterization of superconducting bi2212 bolometer for the detection of THz waves
Fabrication and characterization of superconducting bi2212 bolometer for the detection of THz waves
by 
Kurt, Metin, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
fabrication, the exact thickness of the crystal were obtained using atomic force microscopy. Then, the samples
Select All
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Materyal Türü
Tez
(2)
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
2014
(2)
Konu
Raf Lokasyonu
Kütüphane

İYTE Kütüphanesi © 2020
library@iyte.edu.tr
+90 (232) 750-6335
Gülbahçe Kampüsü - Urla, İzmir 35430 TR