by
Uçar Arserim, Dilhun Keriman.
Format:
El Yazması
Alıntı:
scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffractometer, and Fourier transform infrared
View Other Search Results
by
Molva, Çelenk, author.
Format:
El Yazması
Alıntı:
changes using scanning electron and atomic force microscopy. The results of this study clearly showed that
View Other Search Results
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış: