4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Oğuz, Kaan.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Diffraction (XRD), Atomic Force Microscopy (AFM), and Scanning Electron Microscopy (SEM). Ellipsometry was
by 
Özdemir, Mehtap.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
height of the mesa were investigated using atomic force microscopy. Tunneling characteristics were
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol