by
Özkendir, Dilce, author.
Format:
El Yazması
Alıntı:
Atomic force microscopy.
View Other Search Results
by
Özçeri, Elif.
Format:
El Yazması
Alıntı:
Force Microscopy (AFM) techniques, respectively. The thickness and columnar structure of the films were
View Other Search Results
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış: