İYTE Library Logo

DEFAULT_TR
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00000DEFAULT_TR
Yazdır
4. 
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films için kapak resmi
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
by 
Özden, Selin, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). The variation of As2O3 and Ga2O3 contents
5. 
Influence of ni thin flim structural properties over graphene growth by cvd için kapak resmi
Influence of ni thin flim structural properties over graphene growth by cvd
Influence of ni thin flim structural properties over graphene growth by cvd
by 
Özçeri, Elif.
Access to Electronic Versiyon.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Force Microscopy (AFM) techniques, respectively. The thickness and columnar structure of the films were
Select All
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Materyal Türü
Tez
(5)
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
Konu
Raf Lokasyonu
Kütüphane

İYTE Kütüphanesi © 2020
library@iyte.edu.tr
+90 (232) 750-6335
Gülbahçe Kampüsü - Urla, İzmir 35430 TR