İYTE Library Logo

DEFAULT_TR
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Characterization of vanadium oxide thin films grown by magnetron sputtering technique için kapak resmi
Characterization of vanadium oxide thin films grown by magnetron sputtering technique
Characterization of vanadium oxide thin films grown by magnetron sputtering technique
by 
Yüce, Hürriyet, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
techniques such as Raman, X-ray diffraction (XRD) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and
2. 
Characterization of lattice mismatch indüced dislocations on epitaxial CdTe films için kapak resmi
Characterization of lattice mismatch indüced dislocations on epitaxial CdTe films
Characterization of lattice mismatch indüced dislocations on epitaxial CdTe films
by 
Bilgilisoy, Elif, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
quality was also obtained by using x-ray diffraction (XRD) measurements. The thicknesses of the samples
Select All
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Materyal Türü
Tez
(2)
Dil
Konu
Raf Lokasyonu
Kütüphane

İYTE Kütüphanesi © 2020
library@iyte.edu.tr
+90 (232) 750-6335
Gülbahçe Kampüsü - Urla, İzmir 35430 TR