2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Özden, Selin, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Force Microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM). The variation of As2O3 and Ga2O3 contents
by 
Deliismail, Özgün, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Scanning Electron Microscopy, Volumetric Adsorption Instrument, X-ray Diffractometer, Fourier Transformer
Select All
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Materyal Türü
Dil
Raf Lokasyonu
Kütüphane