4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Ülkeryıldız, Eda.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
by centrifugation, dried at 105 oC in an oven for 1 day, and characterized by the Scanning Electron
by 
Özçeri, Elif.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
measured from Surface Profiler and Scanning Electron Microscopy (SEM) images. Ni films were annealed at 800
by 
Ocak, Yılmaz.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and scanning transmission electron microscopy
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol