by
Ocak, Yılmaz.
Format:
El Yazması
Alıntı:
X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and scanning transmission electron microscopy
by
Çağlar, Özlem
Format:
El Yazması
Alıntı:
studied by X-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscope (SEM
Arama Sonuçlarını Sınırlandır