Giriş Yapılıyor...
Kullanıcı adı
:
Şifre
:
Kayıt
Forgot your PIN?
Enter your username and a recovery link will be emailed to the email address on file at your library.
Kullanıcı adı
:
Giriş
|
Kütüphane Hesabım
|
Listelerim
|
İstek Formları
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
Rooms Restriction Values
Tüm Alanlar
Başlık
Yazar
Genel Not
Yazar Başlıklarında Anahtar Kelime
Konu
Konu Başlıklarında Anahtar Kelime
ISBN
Yer Numarası
Search Field
Tüm Alanlar
Target Value
Limit Value
Restriction Value
Arama:
To enable accessibility mode, return to the beginning of the page and use the link in the menu bar.
Gelişmiş Arama
DEFAULT_TR
Tez Koleksiyonu
DEFAULT_TR
Kitap Koleksiyonu
E-Kitap Koleksiyonu
Multimedia Koleksiyonu
Tez Koleksiyonu
Ulaştırma Mühendisliği Koleksiyonu
Basılı Süreli Yayınlar
Yeşil Kampüs
5 sonuç bulundu
Actions:
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
Ayırt
Sıralama:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
Select All
1
00000
DEFAULT_TR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
One or more items could not be added because you are not logged in.
1.
Characterization of lattice mismatch indüced dislocations on epitaxial CdTe films
Characterization of lattice mismatch indüced dislocations on epitaxial CdTe films
by
Bilgilisoy, Elif, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
El Yazması
2.
Defect reduction study of molecular beam epitaxially grown CdTe thin flims by ex-situ annealing
Defect reduction study of molecular beam epitaxially grown CdTe thin flims by ex-situ annealing
by
Bakali, Emine, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
El Yazması
View Other Search Results
3.
Characterization of molecular beam epitaxially crown CdTe layers over gass by spectroscopic ellipsometry
Characterization of molecular beam epitaxially crown CdTe layers over gass by spectroscopic ellipsometry
by
Günnar, Merve, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
El Yazması
4.
Characterization of GaAs (211) surface for epitaxial buffer growth
Characterization of GaAs (211) surface for epitaxial buffer growth
by
Polat, Mustafa, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
El Yazması
5.
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
by
Özden, Selin, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
El Yazması
Select All
1
5 sonuç bulundu
Actions:
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
Ayırt
Sıralama:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
Included
Yazar: Selamet, Yusuf thesis advisor.
Yazar
Dahil
Hariç
İzmir Institute of Technology. Physics.
(3)
Bakali, Emine, author.
(1)
Bilgilisoy, Elif, author.
(1)
Günnar, Merve, author.
(1)
Polat, Mustafa, author.
(1)
Özden, Selin, author.
(1)
İzmir Institute of Technology. Physics.
(1)
İzmir Institute of Technology. Physics.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Materyal Türü
Dahil
Hariç
Tez
(5)
Dil
Dahil
Hariç
English
(5)
Yayın Tarihi
Dahil
Hariç
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
From Publication Year
-
To Publication Year
2014
(3)
2015
(2)
Konu
Dahil
Hariç
Molecular beam epitaxy.
(2)
Raman spectroscopy.
(2)
Atomic force microscopy.
(1)
Cadmium telluride.
(1)
Ellipsometry.
(1)
Epitaxy.
(1)
Gallium arsenide semiconductors -- Testing
(1)
Mercury cadmium tellurides.
(1)
Molecular beam epitaxy
(1)
Scanning electron microscopy.
(1)
Simulated annealing (Mathematics)
(1)
Thin films.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Raf Lokasyonu
Dahil
Hariç
Tez Koleksiyonu
(5)
Kütüphane
Dahil
Hariç
IYTE Library
(5)
false
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}