Giriş
|
Kütüphane Hesabım
|
Listelerim
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
Rooms Restriction Values
Tüm Alanlar
Title
Author
General Note
Keyword in Author headings
Subject
Keyword in Subject headings
ISBN
Preferred Shelf Number
7
Search Field
Tüm Alanlar
Target Value
Limit Value
Restriction Value
Arama:
Gelişmiş Arama
DEFAULT_TR
Tez Koleksiyonu
DEFAULT_TR
Kitap Koleksiyonu
E-Kitap Koleksiyonu
Multimedia Koleksiyonu
Tez Koleksiyonu
Ulaştırma Mühendisliği Koleksiyonu
Basılı Süreli Yayınlar
Yeşil Kampüs
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
+
Shelf Location: Tez Koleksiyonu
+
Author: Selamet, Yusuf thesis advisor.
+
Publication Date: 2014
+
Library: IYTE Library
Author
Dahil
Hariç
Günnar, Merve, author.
(1)
Polat, Mustafa, author.
(1)
Özden, Selin, author.
(1)
İzmir Institute of Technology. Physics.
(1)
İzmir Institute of Technology. Physics.
(1)
İzmir Institute of Technology. Physics.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Material Type
Dahil
Hariç
Ek CD-ROM
Tez
Language
Dahil
Hariç
English
(3)
Subject
Dahil
Hariç
Ellipsometry.
(1)
Epitaxy.
(1)
Gallium arsenide semiconductors -- Testing
(1)
Molecular beam epitaxy
(1)
Raman spectroscopy.
(1)
false
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
3 sonuç bulundu
1
Sıralama:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
000
DEFAULT_TR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
One or more items could not be added because you are not logged in.
1.
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
Characterization of defect structure of epitaxial CdTe films
by
Özden, Selin, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
2.
Characterization of molecular beam epitaxially crown CdTe layers over gass by spectroscopic ellipsometry
Characterization of molecular beam epitaxially crown CdTe layers over gass by spectroscopic ellipsometry
by
Günnar, Merve, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
3.
Characterization of GaAs (211) surface for epitaxial buffer growth
Characterization of GaAs (211) surface for epitaxial buffer growth
by
Polat, Mustafa, author.
Access to Electronic Versiyon.
Format:
Eylem Seç
Ayırt
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
1
