by
Üney, Sinem, author.
Format:
El Yazması
Alıntı:
Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM) and Surface Plasmon Resonance which allows to
View Other Search Results
by
Uçar Arserim, Dilhun Keriman.
Format:
El Yazması
Alıntı:
scanning electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray diffractometer, and Fourier transform infrared
View Other Search Results
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış: