4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Select All
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULT_TR
Yazdır
by 
Tokuç, Hüseyin.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
. Refractive index of the barrier layer was determined by ellipsometry technique. In this study, magnetic
by 
Oğuz, Kaan.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
Diffraction (XRD), Atomic Force Microscopy (AFM), and Scanning Electron Microscopy (SEM). Ellipsometry was
by 
Bilgilisoy, Elif, author.
Format: 
El Yazması
Alıntı: 
were measured by ex-situ spectroscopic ellipsometry (SE). The surface morphologies of the CdTe buffer
Select All
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Materyal Türü
Dil
Yayın Tarihi
This graph shows the distribution of publication dates for use with a date range slider. Switch to Years view for a more detailed breakdown of search results by year.
-
Raf Lokasyonu
Kütüphane